Product
SESO
Precision Wireless Measurement Device
AGMD(Advanced Gap Measurement Device) | |||||||||||||||
Wafer形 정밀 계측 센서인 Wafer Sensor Master는 반도체 장비 내부에서 Wafer이동 구간, Robot 및 Wafer process position에서 Vibration, Level, Gap을 실시간으로 측정하며, 이를 통하여 최적화된 Set-up을 지원하고, 정상적인 PM 및 BM의 진행 유무를 확인 및 검증할 수 있습니다. |
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AGMD는 Wafer形 정밀 Gap 계측 센서로, Eddy current 방식을 통하여 Chamber 내부에서 Pedestal(Heater)와 Shower head와의 간극을 측정합니다. 실시간으로 측정되는 Gap Data를 통해서, 공정위치인 Pedestal과 Shower Head 사이의 평행여부를 판단할 수 있습니다. AGMD는 마찰에 의한 Scratch 및 Particle 발생 방지를 위해 고강도 처리한 외관을 가지고 있습니다. AGMD는 13mm~20mm 범위 내에서 측정이 가능하며, 측정범위 내에서는 25um의 Accuracy를 제공합니다. AGMD는 Eddy current방식으로 반영구적인 계측정확성을 가지므로, 수시로 Field Calibration을 진행하여야 하는 불편함이 없습니다.(Calibration jig 이용할 필요가 없음. ) |
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